Zweistrahlsystem
EP1501115
Art B1
1. Juli 2009
Anmelder: FEI COMPANY, FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1501115
- Aktenzeichen
- EP04076891
- Anmeldetag
- 1. Juli 2004
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2009
- Erteilung
- 1. Juli 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/30H01J37/26H01J37/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- FEI COMPANY
FEI Company - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte