Mikroskopanordnung zur Inspektion eines Substrates
EP1506446
Art B1
8. Februar 2006
Anmelder: Infineon Technologies AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1506446
- Aktenzeichen
- EP03729893
- Anmeldetag
- 21. Mai 2003
- Veröffentlichung
- 8. Februar 2006
- Erteilung
- 8. Februar 2006
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Infineon Technologies AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Infineon Technologies
Deutscher Halbleiterkonzern mit Sitz in Neubiberg bei München, hervorgegangen aus Siemens. Entwickelt und fertigt Halbleiter und Systemlösungen für Automobil-, Industrie- und Sicherheitsanwendungen.
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