Elektronenmikroskop mit Vorrichtung zur Messung des absorbierten Stroms für die Erzeugung von Bildern

EP1511066 Art B1 2. September 2015

Anmelder: Hitachi, Ltd., Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1511066
Aktenzeichen: EP04013829
Anmeldetag: 11. Juni 2004
Veröffentlichung: 2. September 2015
Erteilung: 2. September 2015
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/28H01J37/244G01N23/225

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Hitachi, Ltd.
Hitachi High-Technologies Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hitachi

Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.

16.329 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Hitachi High-Tech Corporation

Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.

3.840 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von