Pixeldetektor für Teilchen und / oder Photonen mit verbesserten Testmöglichkeiten und Verfahren zum Testen eines Pixeldetektors

EP1538460 Art B1 26. Dezember 2012

Anmelder: Dectris AG, PAUL SCHERRER INSTITUT 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1538460
Aktenzeichen
EP04026776
Anmeldetag
11. November 2004
Veröffentlichung
26. Dezember 2012
Erteilung
26. Dezember 2012
Rechtsraum
EP
IPC
G01T1/24G01T1/17G01T3/08G01T1/29
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Dectris AG
PAUL SCHERRER INSTITUT
Land
🇨🇭 Schweiz

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Fischer, Michael Siemens AG · Inhouse Zürich, Schweiz
1.054
Patente gesamt
31
Fachgebiete
16
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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