Vorrichtung zur Untersuchung von Oberflächen und Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Substraten
EP1568985
Art A3
29. Dezember 2010
Anmelder: Omron Corporation, Omron Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1568985
- Aktenzeichen
- EP05003164
- Anmeldetag
- 15. Februar 2005
- Veröffentlichung
- 29. Dezember 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/956G01N21/00G01R31/309G01R31/308G06T7/00G06T7/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Omron Corporation
Omron Co., Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Omron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.
1.838 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
701
Patente gesamt
30
Fachgebiete
10
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Schwerpunkte
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