Verfahren zur Auswertung von Fehlern in einer Halbleitervorrichtung und entsprechende Vorrichtung
EP1583007
Art A3
26. Oktober 2005
Anmelder: Renesas Technology Corp. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1583007
- Aktenzeichen
- EP05000924
- Anmeldetag
- 18. Januar 2005
- Veröffentlichung
- 26. Oktober 2005
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F17/50G11C11/412G06F17/18G01R31/30
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Renesas Technology Corp.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Renesas Technology
Renesas Technology war ein japanischer Halbleiterhersteller und Vorgängerunternehmen der heutigen Renesas Electronics. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Software, ergänzt um Datenspeicher- und Schaltungstechnik. Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2009.
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