Inspektionsmethode, System und Methode zur Herstellung eines Trägersubstrats für Bauteile

EP1612546 Art A1 4. Januar 2006

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1612546
Aktenzeichen
EP05014084
Anmeldetag
29. Juni 2005
Veröffentlichung
4. Januar 2006
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/04H05K13/08H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
OMRON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.706 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Kilian, Helmut München, Deutschland
701
Patente gesamt
30
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Software & Datenverarbeitung Nachrichtentechnik & Telekommunikation
Zum Anwaltsprofil
Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen