Verfahren und Vorrichtung zur Substratinspektion

EP1619494 Art B1 7. Januar 2015

Anmelder: OMRON CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1619494
Aktenzeichen
EP05015551
Anmeldetag
18. Juli 2005
Veröffentlichung
7. Januar 2015
Erteilung
7. Januar 2015
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/956G06T7/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
OMRON CORPORATION
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

6.706 Patente in unserer Datenbank

Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen