Teilchendetektor geeignet für die Erkennung von Ionen und Elektronen
EP1636819
Art B1
25. August 2010
Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1636819
- Aktenzeichen
- EP04756170
- Anmeldetag
- 25. Juni 2004
- Veröffentlichung
- 25. August 2010
- Erteilung
- 25. August 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI COMPANY
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Pollard, Peter Julian
Veldhoven, Niederlande
32
Patente gesamt
17
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5
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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DeltaPatents B.V
DeltaPatents B.V · Eindhoven
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Bakker, Hendrik
NoneEindhoven