Rastermikroskop
EP1651992
Art B1
16. Februar 2011
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH, Leica Microsystems Heidelberg GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1651992
- Aktenzeichen
- EP04766317
- Anmeldetag
- 26. Juli 2004
- Veröffentlichung
- 16. Februar 2011
- Erteilung
- 16. Februar 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00// G02B21/18
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Leica Microsystems CMS GmbH
Leica Microsystems Heidelberg GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Schaumburg, Thoenes, Thurn, Landskron, Eckert
München, Deutschland
788
Patente gesamt
31
Fachgebiete
14
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
-
Reichert, Werner Franz
NoneWetzlar