Rastermikroskop
EP1660924
Art B1
1. Oktober 2014
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1660924
- Aktenzeichen
- EP04766574
- Anmeldetag
- 23. August 2004
- Veröffentlichung
- 1. Oktober 2014
- Erteilung
- 1. Oktober 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Landskron, Jürgen
München, Deutschland
1
Patente gesamt
1
Fachgebiete
1
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB
Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
- (deleted)
-
Naumann, Ulrich
NoneHeidelberg
-
Stamer, Harald
NoneWetzlar