Geformte Sputter-Abschirmungen für Verbesserten Ionensäulenbetrieb

EP1665319 Art B1 10. Oktober 2012

Anmelder: FEI COMPANY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1665319
Aktenzeichen
EP04780983
Anmeldetag
13. August 2004
Veröffentlichung
10. Oktober 2012
Erteilung
10. Oktober 2012
Rechtsraum
EP
IPC
H01J27/02H01J37/09H01J37/317H01J27/22
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
FEI COMPANY
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 FEI Company

US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.

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