Verfahren und System zur Gerichteten Detektion von Elektronen in einem Rasterelektronenmikroskop
EP1706887
Art B1
26. September 2012
Anmelder: POLITECHNIKA WROCLAWSKA 🇵🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1706887
- Aktenzeichen
- EP04775186
- Anmeldetag
- 6. Oktober 2004
- Veröffentlichung
- 26. September 2012
- Erteilung
- 26. September 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- POLITECHNIKA WROCLAWSKA
- Land
- 🇵🇱 Polen
Fachgebiete
Vertreten von
Gnatzig, Klaus
Oberkochen, Deutschland
55
Patente gesamt
11
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte