Gnatzig, Klaus
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Patente
56 gesamt| Patent | |||
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31.03.2021 · Carl Zeiss Microscopy, LLC
Verfahren und System zur Erhitzung des Spitzenapex einer Quelle für Geladene Partikel
Steuerungs- & Regelungstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 28.05.2010
Erteilt am 31.03.2021
Vertretung
Gnatzig, Klaus · Oberkochen
Carl Zeiss SMT GmbH · Oberkochen
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29.04.2020 · Carl Zeiss Microscopy, LLC
Verfahren und Systeme für Isotopenionenmikroskopie
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Status
Angemeldet am 26.05.2009
Erteilt am 29.04.2020
Vertretung
Gnatzig, Klaus · Oberkochen
Carl Zeiss SMT GmbH · Oberkochen
Zusammenfassung
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12.07.2017 · Carl Zeiss Microscopy, LLC
Ionenquellen sowie Systeme und Verfahren zu deren Verwendung
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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28.09.2016 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Phasenkontrast-Elektronenmikroskop
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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25.02.2015 · Carl Zeiss Industrielle Messt…
Messdatenerfassung auf Koordinatenmess- und Digitalisiermaschinen
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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Zusammenfassung
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26.03.2014 · Carl Zeiss Meditec AG
Verfahren und Gerät zur Messung eines Hornhautprofils eines Auges
Medizintechnik & Gesundheit
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20.02.2013 · Carl Zeiss Microscopy GmbH
Detektor für ein Rasterelektronenmikroskop mit Variablem Druck und Rasterelektronenmikroskop mit einem Solchen Detektor
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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09.01.2013 · Carl Zeiss Vision GmbH
Verfahen zum Polieren und Poliermaschine
Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
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19.12.2012 · Cassidian Optronics GmbH
Verfahren zum Ausgleich von technologisch bedingten Inhomogenitäten in einzelnen Bildaufnahmedetektorelementen
Nachrichtentechnik & Telekommunikation
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Status
Angemeldet am 20.09.2001
Erteilt am 19.12.2012
Vertretung
Gnatzig, Klaus · Oberkochen
FDST Patentanwälte · Nürnberg
Zusammenfassung
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26.09.2012 · POLITECHNIKA WROCLAWSKA
Verfahren und System zur Gerichteten Detektion von Elektronen in einem Rasterelektronenmikroskop
Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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Zusammenfassung
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Vertretene Patentanmelder
Die Patentanmelder, die Gnatzig, Klaus in den erfassten Patenten am häufigsten vertritt.
| Anmelder | Anzahl Patente |
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| 1. Carl Zeiss Microscopy GmbH | 10 |
| 2. Carl Zeiss | 5 |
| 3. Carl Zeiss Meditec | 3 |
| 4. Carl Zeiss SMT | 2 |
| 5. Carl Zeiss Industrielle Messtechnik | 1 |
| 6. Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt | 1 |
Patente nach Jahr
Nach Anmeldejahr. Patentanmeldungen werden in der Regel erst 18 Monate nach der Anmeldung veröffentlicht, daher sind die jüngsten Jahre noch unvollständig. Der graue Balkenanteil zeigt eine Hochrechnung auf Basis der typischen Veröffentlichungsverzögerung: so viele Anmeldungen sind für das Jahr insgesamt zu erwarten.