Kontrolle der lateralen Verteilung von Luftspalten in Interkonnekts
EP1742260
Art A3
26. Oktober 2011
Anmelder: STMicroelectronics (Crolles 2) SAS, NXP B.V., Koninklijke Philips Electronics N.V. 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1742260
- Aktenzeichen
- EP06291020
- Anmeldetag
- 21. Juni 2006
- Veröffentlichung
- 26. Oktober 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/768
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- STMicroelectronics (Crolles 2) SAS
NXP B.V.
Koninklijke Philips Electronics N.V. - Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.929 Patente in unserer Datenbank
🇳🇱
Philips
Niederländisches Technologieunternehmen mit Sitz in Amsterdam, spezialisiert auf Medizintechnik, Diagnosegeräte, Patientenüberwachung sowie Gesundheits- und Wellnessprodukte.
45.068 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Verdure, Stéphane
Paris, Frankreich
232
Patente gesamt
26
Fachgebiete
12
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Plasseraud IP
Plasseraud IP · Paris
-
Cabinet Plasseraud
Cabinet Plasseraud · Paris