Rastersondenmikroskopsonde und Herstellungsverfahren dafür sowie Rastersondenmikroskop und Anwendungsverfahren dafür sowie Nadelähnliches Element und Herstellungsverfahren dafür sowie Elektronenelement und Herstellungsverfahren dafür sowie Ladungsdichtewellenquantum-Phasenmikroskop und Ladungsdichtewellenquantum-Interferometer
EP1744143
Art A1
17. Januar 2007
Anmelder: Japan Science and Technology Agency 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1744143
- Aktenzeichen
- EP05736881
- Anmeldetag
- 22. April 2005
- Veröffentlichung
- 17. Januar 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N13/10B82B1/00B82B3/00G12B21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Japan Science and Technology Agency
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Japan Science and Technology Agency
Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.
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Fachgebiete
Kanzlei
Mitscherlich PartmbB
München, Deutschland
Mitscherlich wurde 1896 in Berlin gegründet und zog 1951 nach München, direkt in Nähe zu Europäischem Patentamt, DPMA, Bundespatentgericht und der Münchner UPC-Lokalkammer. Sie legt Wert auf Kontinuität und betreut manche Mandate seit Jahrzehnten.
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