Rasterelektronenmikroskop
EP1777729
Art B1
9. November 2011
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1777729
- Aktenzeichen
- EP05770592
- Anmeldetag
- 10. August 2005
- Veröffentlichung
- 9. November 2011
- Erteilung
- 9. November 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/02H01J37/20H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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