Optische Messvorrichtung und Optisches Messverfahren, Nanopartikel-Messverfahren und -Vorrichtung
EP1785718
Art B1
4. Januar 2017
Anmelder: Shimadzu Corporation, SHIMADZU CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1785718
- Aktenzeichen
- EP05766364
- Anmeldetag
- 15. Juli 2005
- Veröffentlichung
- 4. Januar 2017
- Erteilung
- 4. Januar 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/02G01N21/47// G01N15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Shimadzu Corporation
SHIMADZU CORPORATION - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
2.214 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kilian, Helmut
München, Deutschland
701
Patente gesamt
30
Fachgebiete
10
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
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