Messung von Duktilitätskennwerten
EP1788376
Art A1
23. Mai 2007
Anmelder: ETH Zurich, ETH Zürich 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1788376
- Aktenzeichen
- EP05405641
- Anmeldetag
- 16. November 2005
- Veröffentlichung
- 23. Mai 2007
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N3/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ETH Zurich
ETH Zürich - Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
ETH Zürich
Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, Schweizer Hochschule mit Forschungsschwerpunkten in Natur-, Ingenieur- und Materialwissenschaften.
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