Oberflächenuntersuchungsvorrichtung und -Verfahren
EP1793221
Art A3
17. Dezember 2008
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1793221
- Aktenzeichen
- EP07004821
- Anmeldetag
- 3. November 2003
- Veröffentlichung
- 17. Dezember 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/88G01B11/30G01B15/08
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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