Röntgenstrahlungsinterferometer für die Phasenkontrastbildgebung
EP1879020
Art A1
16. Januar 2008
Anmelder: PAUL SCHERRER INSTITUT 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1879020
- Aktenzeichen
- EP06019022
- Anmeldetag
- 12. September 2006
- Veröffentlichung
- 16. Januar 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- PAUL SCHERRER INSTITUT
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
PAUL Scherrer Institut
Das Paul Scherrer Institut ist das größte Forschungszentrum für Natur- und Ingenieurwissenschaften der Schweiz mit Sitz in Villigen und Anbindung an Großforschungsanlagen wie Synchrotron und Freie-Elektronen-Laser. Die Patente betreffen vor allem Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiterelemente, ergänzt um Medizintechnik, Verfahrenstechnik und Optik. Anmeldungen erfolgen kontinuierlich seit 2000.
393 Patente in unserer Datenbank