Verfahren und Vorrichtung zum Hochaufgelösten Optischen Abtasten einer Probe
EP1926985
Art B1
11. Februar 2015
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP1926985
- Aktenzeichen
- EP06775749
- Anmeldetag
- 25. Juli 2006
- Veröffentlichung
- 11. Februar 2015
- Erteilung
- 11. Februar 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J3/28G01J3/44G02B21/00G02B21/16G01N21/64
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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