Multiples Oberflächenprüfungssystem und Verfahren

EP1978353 Art B1 8. Juli 2020

Anmelder: Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd, SEMCONDUCTOR TECHNOLOGIES AND INSTRUMENTS PTE LTD, Asti Holdings Limited 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP1978353
Aktenzeichen
EP08251328
Anmeldetag
4. April 2008
Veröffentlichung
8. Juli 2020
Erteilung
8. Juli 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/88
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd
SEMCONDUCTOR TECHNOLOGIES AND INSTRUMENTS PTE LTD
Asti Holdings Limited
Land
🇸🇬 Singapur

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Douglas, Michael Stephen Birmingham, Großbritannien
8
Patente gesamt
8
Fachgebiete
5
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Medizintechnik & Gesundheit Sport, Freizeit & Sicherheitstechnik Pharma & Biotechnologie Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Organische Chemie
Zum Anwaltsprofil
Weitere Vertreter

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen