Messsonde, Vorrichtung und Verfahren zur Oberflächenmessung einer Probe

EP1985991 Art B1 13. Juni 2012

Anmelder: Japan Science and Technology Agency 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1985991
Aktenzeichen: EP07714179
Anmeldetag: 14. Februar 2007
Veröffentlichung: 13. Juni 2012
Erteilung: 13. Juni 2012
Rechtsraum: EP
IPC: G01Q20/02G01Q60/26G01Q60/38B82Y35/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Japan Science and Technology Agency
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Japan Science and Technology Agency

Japanische staatliche Förderorganisation für Wissenschaft und Technologie, die Forschungsprojekte finanziert und den Technologietransfer zwischen Universitäten und Industrie unterstützt. Die Behörde untersteht dem japanischen Bildungsministerium.

2.090 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von