Verfahren zur Analyse einer Optischen Messung

EP1990627 Art B1 15. April 2015

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP1990627
Aktenzeichen: EP06714917
Anmeldetag: 28. Februar 2006
Veröffentlichung: 15. April 2015
Erteilung: 15. April 2015
Rechtsraum: EP
IPC: G01N15/02G01N21/47G01N11/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

2.214 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von