Phasenkontrast-Röntgenbildgebung in Laue-Diffraktionsgeometrie mit rotierbaren Analysator-Kristallen
EP2009429
Art A1
31. Dezember 2008
Anmelder: Hitachi, Ltd., Hitachi Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2009429
- Aktenzeichen
- EP08011253
- Anmeldetag
- 20. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 31. Dezember 2008
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/207
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi, Ltd.
Hitachi Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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