Mikroskop und Mikroskopierverfahren zur Messung des Oberflächenprofils eines Objekts
EP2010862
Art B1
2. Januar 2013
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2010862
- Aktenzeichen
- EP07724288
- Anmeldetag
- 17. April 2007
- Veröffentlichung
- 2. Januar 2013
- Erteilung
- 2. Januar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/24G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Fachgebiete
Vertreten von
Hampe, Holger
Jena, Deutschland
91
Patente gesamt
6
Fachgebiete
1
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Schwerpunkte