Plasmafokussiertes Ionenstrahlsystem mit mehreren Quellen
EP2041756
Art B1
13. Mai 2015
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2041756
- Aktenzeichen
- EP07872697
- Anmeldetag
- 16. Juli 2007
- Veröffentlichung
- 13. Mai 2015
- Erteilung
- 13. Mai 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/08H01J37/30H01J37/305H01J37/317C23C14/00C23C14/22H01J37/32G21G5/00H01J27/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte