Verfahren zur Untersuchung eines Objekts mit einem Mikroskop und ein Mikroskop
EP2064578
Art A1
3. Juni 2009
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2064578
- Aktenzeichen
- EP07788340
- Anmeldetag
- 9. August 2007
- Veröffentlichung
- 3. Juni 2009
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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Schaumburg und Partner Patentanwälte mbB · München
-
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