Probenhalter, Verfahren zur Beobachtung und Untersuchung und Vorrichtung zur Beobachtung und Untersuchung
EP2075821
Art A3
8. Dezember 2010
Anmelder: JEOL LTD., JEOL Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2075821
- Aktenzeichen
- EP08254133
- Anmeldetag
- 23. Dezember 2008
- Veröffentlichung
- 8. Dezember 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20H01J37/26G01N23/225
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
JEOL Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
288 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Boult Wade Tennant LLP
Boult Wade Tennant LLP · London
-
Boult Wade Tennant
Boult Wade Tennant · London