Integrierte Schaltung mit Strahlungsschutz
EP2097980
Art B1
8. Januar 2014
Anmelder: IHP GmbH-Innovations for High Performance Microelectronics / Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik, IHP GmbH-Innovations for High Performance Microelectronics/Institut für innovative Mikroelektronik 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2097980
- Aktenzeichen
- EP07822531
- Anmeldetag
- 13. November 2007
- Veröffentlichung
- 8. Januar 2014
- Erteilung
- 8. Januar 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H03K19/003
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IHP GmbH-Innovations for High Performance Microelectronics / Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
IHP GmbH-Innovations for High Performance Microelectronics/Institut für innovative Mikroelektronik - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
IHP – Innovations for High Performance Microelectronics
Deutsches Forschungsinstitut (Leibniz-Institut) mit Sitz in Frankfurt (Oder), das an Hochleistungs-Mikroelektronik forscht, darunter Silizium-Germanium-Technologien und Halbleiterschaltungen für Kommunikations- und Sensoranwendungen.
150 Patente in unserer Datenbank