Rasterelektronenmikroskop mit einem Film als Probenhalter und einer Schale zum Auffangen von Probenmaterial eines beschädigten Films
EP2105727
Art B1
16. März 2016
Anmelder: JEOL LTD., JEOL Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2105727
- Aktenzeichen
- EP09250792
- Anmeldetag
- 20. März 2009
- Veröffentlichung
- 16. März 2016
- Erteilung
- 16. März 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/22H01J37/22H01J37/20H01J37/28G01N23/225H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
JEOL Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
288 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Boult Wade Tennant LLP
Boult Wade Tennant LLP · London
-
Boult Wade Tennant
Boult Wade Tennant · London