Verfahren zur Bestimmung des Dotierprofils einer teilweise aktivierten dotierten Halbleiterregion
EP2139033
Art A3
4. April 2012
Anmelder: IMEC VZW, Katholieke Universiteit Leuven, IMEC 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2139033
- Aktenzeichen
- EP09163837
- Anmeldetag
- 26. Juni 2009
- Veröffentlichung
- 4. April 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L21/66G01N21/17
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC VZW
Katholieke Universiteit Leuven
IMEC - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
Katholieke Universiteit Leuven
Belgische Universität in Leuven mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, die auch Patente aus Forschungsprojekten hervorbringt.
720 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Wauters, Davy Erik Angelo
Boortmeerbeek, Belgien
164
Patente gesamt
25
Fachgebiete
7
Anmelder-Länder
Schwerpunkte