Externe Magnetfeldwinkelbestimmung

EP2153165 Art B1 20. Juni 2012

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2153165
Aktenzeichen
EP08751099
Anmeldetag
24. April 2008
Veröffentlichung
20. Juni 2012
Erteilung
20. Juni 2012
Rechtsraum
EP
IPC
G01B7/30G01D5/00G01D5/14G01R33/09G01C17/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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