Verfahren zur Bestimmung von Verzeichnungen in einer teilchenoptischen Vorrichtung
EP2197017
Art A3
26. Januar 2011
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2197017
- Aktenzeichen
- EP09178788
- Anmeldetag
- 11. Dezember 2009
- Veröffentlichung
- 26. Januar 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/22H01J37/26G01N23/225G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
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Schwerpunkte