Graben-Gate-MOSFET und Verfahren zu dessen Herstellung

EP2206154 Art B1 29. Juni 2011

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2206154
Aktenzeichen
EP08843598
Anmeldetag
22. Oktober 2008
Veröffentlichung
29. Juni 2011
Erteilung
29. Juni 2011
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/78H01L29/10H01L29/40H01L29/423H01L21/336// H01L21/265H01L21/225
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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