Verfahren zur Erkennung eines Maskendefekts auf der Endoberfläche einer Wabenstruktur

EP2216643 Art B1 17. Februar 2021

Anmelder: NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2216643
Aktenzeichen
EP08853339
Anmeldetag
1. Oktober 2008
Veröffentlichung
17. Februar 2021
Erteilung
17. Februar 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/956G01N21/88G01N21/84B01D46/24B28B17/00// F01N3/02F01N3/28B28B11/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NGK Insulators, Ltd.
Land
🇯🇵 Japan

Fachgebiete

Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Verfahrens- & Trenntechnik Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik
Vertreten von
Paget, Hugh Charles Edward London, Großbritannien
2.000
Patente gesamt
31
Fachgebiete
19
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Verfahrens- & Trenntechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Anorganische Chemie & Werkstoffe Werkzeug-, Fertigungs- & Drucktechnik Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
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