Verfahren und Vorrichtung zu Bestimmung und Kontrolle des Abstandes zwischen einer Integrierten Schaltung und einem Substrat
EP2229574
Art A2
22. September 2010
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2229574
- Aktenzeichen
- EP08855337
- Anmeldetag
- 25. November 2008
- Veröffentlichung
- 22. September 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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