Vorrichtung zur Inspektion von Wabenstrukturdefekten und Verfahren zur Inspektion von Wabenstrukturdefekten
EP2233908
Art B1
25. April 2018
Anmelder: NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2233908
- Aktenzeichen
- EP10250534
- Anmeldetag
- 22. März 2010
- Veröffentlichung
- 25. April 2018
- Erteilung
- 25. April 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/08G01M3/26F01N3/021G01M3/38G01N21/956B01D46/24B01D46/42B01D65/10F01N3/022
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NGK Insulators, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
NGK Insulators
Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.
3.021 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Naylor, Matthew John
London, Großbritannien
1.221
Patente gesamt
34
Fachgebiete
13
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Mewburn Ellis LLP
Mewburn Ellis LLP · München
-
Paget, Hugh Charles Edward
NoneLondon