Vorrichtung zur Materialuntersuchung mittels Elektronenstrahl
EP2237306
Art B1
23. Mai 2012
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation, Hitachi Science Systems, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2237306
- Aktenzeichen
- EP10006800
- Anmeldetag
- 18. März 2004
- Veröffentlichung
- 23. Mai 2012
- Erteilung
- 23. Mai 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/252G01N23/225H01J37/244H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi High-Technologies Corporation
Hitachi Science Systems, Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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