Schaltmuster-Fehlererkennungsvorrichtung, Schaltmuster-Fehlererkennungsverfahren und Programm dafür

EP2264441 Art A3 21. Dezember 2011

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2264441
Aktenzeichen: EP10006185
Anmeldetag: 15. Juni 2010
Veröffentlichung: 21. Dezember 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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