Verfahren zur Korrektur einer Zweidimensionalen Positionskarte und Vorrichting zur Strahlungsdetektion

EP2287635 Art B1 20. September 2017

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2287635
Aktenzeichen: EP08764354
Anmeldetag: 19. Mai 2008
Veröffentlichung: 20. September 2017
Erteilung: 20. September 2017
Rechtsraum: EP
IPC: G01T1/164G01T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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