Verfahren zur Abbildung von Strukturdefekten und Vorrichtung zur Abbildung von Strukturdefekten
EP2315020
Art B1
24. Juli 2019
Anmelder: Tohoku University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2315020
- Aktenzeichen
- EP09797758
- Anmeldetag
- 19. Mai 2009
- Veröffentlichung
- 24. Juli 2019
- Erteilung
- 24. Juli 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/06G01B17/06// G01N29/34G01S15/89G01N29/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tohoku University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
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Fachgebiete
Vertreten von
-
Plougmann Vingtoft a/s
Plougmann Vingtoft a/s · Hellerup
-
Plougmann & Vingtoft A/S
Plougmann & Vingtoft A/S · Copenhagen Ø