Plasmaquelle für ein Teilchenstrahlsystem
EP2341525
Art B1
23. Oktober 2013
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2341525
- Aktenzeichen
- EP10196692
- Anmeldetag
- 23. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2013
- Erteilung
- 23. Oktober 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/02H01J37/08H01J27/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
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28
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4
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