Verfahren für einen beschleunigten Anregungswellenlängen-Scan bei einem Fluoreszenzmikroskop
EP2365317
Art A1
14. September 2011
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2365317
- Aktenzeichen
- EP11155130
- Anmeldetag
- 21. Februar 2011
- Veröffentlichung
- 14. September 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/64C12M1/34
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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