Messung der Probendicke und Endpunkbestimmung
EP2367195
Art B1
12. März 2014
Anmelder: FEI Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2367195
- Aktenzeichen
- EP11165381
- Anmeldetag
- 2. November 2009
- Veröffentlichung
- 12. März 2014
- Erteilung
- 12. März 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/304H01J37/305G01N1/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- FEI Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
FEI Company
US-amerikanischer Hersteller von Elektronenmikroskopen und wissenschaftlichen Bildgebungssystemen, seit 2016 Teil von Thermo Fisher Scientific. Patente betreffen Elektronen- und Ionenmikroskopie sowie Materialanalyse.
506 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Bakker, Hendrik
Eindhoven, Niederlande
618
Patente gesamt
28
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte