Verfahren und Schaltung zur Detektion eines Fehlerangriffs
EP2367316
Art B1
5. Juli 2017
Anmelder: STMicroelectronics (Rousset) SAS 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2367316
- Aktenzeichen
- EP10305250
- Anmeldetag
- 12. März 2010
- Veröffentlichung
- 5. Juli 2017
- Erteilung
- 5. Juli 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L9/06H04L9/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- STMicroelectronics (Rousset) SAS
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
STMicroelectronics (Rousset)
Französischer Produktionsstandort des Halbleiterkonzerns STMicroelectronics in Rousset. Der Standort fertigt integrierte Schaltkreise und Halbleiterbauelemente für Automobil-, Industrie- und Konsumelektronik.
321 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
de Beaumont, Michel
Grenoble, Frankreich
1.230
Patente gesamt
32
Fachgebiete
18
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-
Cabinet Beaumont
Cabinet Beaumont · Grenoble