Halbleiterdetektor für die Zweidimensionale Erfassung einer Strahlungsposition und Verfahren zur Zweidimensionalen Strahlungspositionserfassung damit
EP2372396
Art A1
5. Oktober 2011
Anmelder: Tohoku University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2372396
- Aktenzeichen
- EP09830459
- Anmeldetag
- 3. Dezember 2009
- Veröffentlichung
- 5. Oktober 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01T1/24G01T1/161H01L27/14H01L31/09
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tohoku University
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tohoku University
Staatliche Universität in Sendai, Japan, mit Forschungsschwerpunkten unter anderem in Materialwissenschaften und Werkstofftechnik.
2.166 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Barth, Stephan Manuel
München, Deutschland
961
Patente gesamt
32
Fachgebiete
15
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Isarpatent
Isarpatent · München