Dichtespurmessung und -auslösung in Frequenzbereichsbitmaps

EP2386869 Art B1 29. August 2018

Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2386869
Aktenzeichen
EP11163997
Anmeldetag
28. April 2011
Veröffentlichung
29. August 2018
Erteilung
29. August 2018
Rechtsraum
EP
IPC
G01R23/18G01R13/02
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Tektronix, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Tektronix, Inc.

US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.

498 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Clarke, Jeffrey Sheffield, Großbritannien
412
Patente gesamt
15
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Akustik, Musik & Datenspeicherung
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