Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Konturerfassung
Anmelder: Sick AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2416182
- Aktenzeichen
- EP10008109
- Anmeldetag
- 3. August 2010
- Veröffentlichung
- 29. Mai 2013
- Erteilung
- 29. Mai 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01V8/14G01B11/24
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Konturerfassung in einem Erfassungsbereich (24). Es werden M Scanvorgänge zum jeweiligen Abscannen des Erfassungsbereichs mit wenigstens einem Scanner durchgeführt, wozu N Lichtstrahlen L i mit unterschiedlichen Richtung R i in den Erfassungsbereich gesendet werden und gegebenenfalls im Erfassungsbereich reflektiertes Licht detektiert wird. Die Umgebung des Scanners (12) ist nicht bei allen M Scanvorgängen gleich. Die Länge des freien Lichtweges di für jede Richtung R i wird für jeden der M Scanvorgänge gemessen. Für jede Richtung R i wird aus den M Scanvorgängen der maximale und der minimale freie Lichtweg bestimmt. Wenn sich der maximal gemessene freie Lichtweg und der minimal gemessene freie Lichtweg in einer Richtung R i höchstens um einen vorgegebenen Grenzwert T unterscheiden, wird die Richtung R i in eine Konturklasse klassifiziert, wobei eine Klassifizierung der Richtung R i in der Konturklasse einer Klassifizierung des zugehörigen Lichtstrahles L i als auf eine Kontur treffend bedeutet, die bezüglich des Scanners feststehend ist. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung zur automatischen Konturerfassung, die zur Durchführung eines erfindungsgemäßen Verfahrens geeignet ist, und ein Fahrzeug (10) mit einer erfindungsgemäßen Vorrichtung (12) zur automatischen Konturerfassung.
Anmelder
- Firma
- Sick AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutsches Unternehmen mit Sitz in Waldkirch, das Sensoren und Sensorlösungen für industrielle Automatisierung, Fabrik-, Logistik- und Prozessautomation entwickelt und herstellt.
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